دانشمندان اسپانیایی ماژول های PV را در شرایط سایه جزئی آزمایش کردند، با هدف درک بهتر شکل گیری نقاط حساس به عملکرد.این مطالعه یک مشکل بالقوه را نشان می‌دهد که به‌ویژه بر ماژول‌های نیمه سلولی و دو وجهی تأثیر می‌گذارد، که ممکن است باعث تسریع کاهش عملکرد شود و توسط استانداردهای آزمایش/گواهی فعلی پوشش داده نمی‌شود.
در این مطالعه، ماژول‌های پنل خورشیدی عمداً برای ایجاد نقاط داغ سایه انداخته شدند.
نصف کردن سلول‌های سیلیکونی و توانایی تولید الکتریسیته از نور خورشید که به هر دو طرف برخورد می‌کند، دو نوآوری است که امکان افزایش بازده انرژی را با هزینه کمی اضافی به همراه دارد.در نتیجه، هر دوی اینها در چند سال گذشته به سرعت رشد کرده‌اند و اکنون جریان اصلی تولید سلول‌های خورشیدی و ماژول‌ها را نشان می‌دهند.
تحقیقات جدید، که در میان برندگان جایزه پوستر درکنفرانس PVSEC اتحادیه اروپاکه ماه گذشته در لیسبون برگزار شد، نشان داده است که ترکیبی از طرح های نیمه برش و سلول های دو وجهی ممکن است تحت شرایط خاص به شکل گیری هات اسپات و مسائل مربوط به عملکرد کمک کند.و نویسندگان این مطالعه هشدار دادند که استانداردهای آزمایش فعلی ممکن است برای شناسایی ماژول های آسیب پذیر در برابر این نوع تخریب مجهز نباشند.
محققان به رهبری شرکت مشاوره فنی انرتیس اپلوس مستقر در اسپانیا، بخش هایی از یک ماژول PV را پوشش دادند تا رفتار آن را در سایه جزئی مشاهده کنند.سرجیو سوارز، مدیر فنی جهانی در Enertis Applus توضیح داد: «ما سایه‌ها را مجبور کردیم تا رفتار ماژول‌های نیمه سلولی تک‌وجهی و دو وجهی را با تمرکز بر شکل‌گیری نقاط داغ و دمایی که این نقاط به آن می‌رسند، بررسی کنیم.جالب است که ما نقاط داغ آینه‌ای را شناسایی کردیم که در موقعیت مخالف نسبت به نقاط داغ معمولی بدون دلایل ظاهری مانند سایه یا شکستگی ظاهر می‌شوند.
تخریب سریعتر
این مطالعه نشان داد که طراحی ولتاژ ماژول‌های نیمه سلولی ممکن است باعث گسترش نقاط حساس به خارج از ناحیه سایه‌دار/ آسیب‌دیده شود.سوارز ادامه داد: ماژول های نیمه سلولی سناریوی جالبی را ارائه کردند.هنگامی که یک هات اسپات پدیدار می شود، طراحی موازی ولتاژ ذاتی ماژول، سایر مناطق بدون تأثیر را نیز به سمت ایجاد هات اسپات سوق می دهد.این رفتار می‌تواند به تخریب بالقوه سریعتر در ماژول‌های نیمه سلولی به دلیل ظاهر شدن این نقاط مهم اشاره کند.
همچنین نشان داده شد که این اثر به ویژه در ماژول‌های دو وجهی قوی است که دمای آن‌ها تا 10 درجه سانتی‌گراد بالاتر از ماژول‌های یک‌طرفه در مطالعه است.ماژول ها در یک دوره 30 روزه تحت شرایط تابش بالا، با آسمان ابری و صاف آزمایش شدند.این مطالعه به زودی به عنوان بخشی از اقدامات رویداد PVSEC اتحادیه اروپا در سال 2023 به طور کامل منتشر می شود.
به گفته محققان، این نتایج مسیری را برای کاهش عملکرد نشان می دهد که استانداردهای تست ماژول به خوبی پوشش داده نشده است.
سوارز می‌گوید: «هات اسپات منحصربه‌فرد در قسمت پایینی ماژول ممکن است باعث ایجاد چندین نقطه داغ در بالای ماژول شود، که اگر به آن توجه نشود، می‌تواند تخریب کلی ماژول را از طریق افزایش دما تسریع کند.وی همچنین خاطرنشان کرد که این امر می‌تواند اهمیت بیشتری برای فعالیت‌های تعمیر و نگهداری مانند تمیز کردن ماژول، و همچنین چیدمان سیستم و خنک‌کننده باد داشته باشد.اما تشخیص زودهنگام مشکل نسبت به این امر ارجح است و نیاز به مراحل جدیدی در آزمایش و تضمین کیفیت در مرحله تولید دارد.
سوارز گفت: «یافته‌های ما نیاز و فرصتی را برای ارزیابی مجدد و احتمالاً به‌روزرسانی استانداردهای فناوری‌های نیمه سلولی و دو وجهی نشان می‌دهد.فاکتور در ترموگرافی، معرفی الگوهای حرارتی خاص برای نیم سلول‌ها و تنظیم نرمال‌سازی گرادیان‌های حرارتی به شرایط استاندارد تست (STC) برای ماژول‌های دو وجهی ضروری است.
زمان ارسال: اکتبر-17-2023